Influence of the semiconductor oxidation potential on the operational stability of organic field-effect transistors
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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In: Applied Physics Letters, 99, 10, S. 103302-
- Klassifikation
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Elektrotechnik, Elektronik
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Augsburg
- (wer)
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Universität Augsburg
- (wann)
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2011
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Melville, NY
- (wer)
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AIP Publishing
- (wann)
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2011
- Urheber
- DOI
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10.1063/1.3634066
- URN
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urn:nbn:de:bvb:384-opus4-1038488
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:34 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Sharma, Abhinav
- Mathijssen, S. G. J.
- Bobbert, P. A.
- de Leeuw, D. M.
- Universität Augsburg
- AIP Publishing
Entstanden
- 2011