In-situ-Charakterisierung der Strukturentwicklung von dünnen Kupferoxidschichten

Hochschulschrift

Object Details

• Location: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
• Dimensions: 30 cm
• Extent: 134 S.
• Language: Deutsch
• Notes: Ill., graph. Darst. ; Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 1998

Classification and Topics

• Keyword: Kupferoxide ; Dünne Schicht ; Mikrostruktur ; Röntgenbeugung ; Rasterkraftmikroskopie

Contributors, Places and Time

• Creator: Roesner, Michael

Further information

• Table of contents: https://d-nb.info/955455766/04
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• Last update: 11.06.2025, 1:43 PM CEST