Hochschulschrift
Entwicklung eines Lebensdauermodells für Durchkontaktierungen in mehrlagigen Leiterplatten
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783954049141
- Maße
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21 cm
- Umfang
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134 S.
- Ausgabe
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1. Aufl.
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2014
- Klassifikation
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Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
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Mehrschichtleiterplatte
Durchkontaktieren
Kupfer
Galvanische Abscheidung
Temperaturwechselbeständigkeit
Materialermüdung
Stoffeigenschaft
Beanspruchung
Finite-Elemente-Methode
Lebensdauer
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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11.06.2025, 14:20 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Konstantin, Georg
- Cuvillier
Entstanden
- 2015