Hochschulschrift

Entwicklung eines Lebensdauermodells für Durchkontaktierungen in mehrlagigen Leiterplatten

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783954049141
Maße
21 cm
Umfang
134 S.
Ausgabe
1. Aufl.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2014

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Mehrschichtleiterplatte
Durchkontaktieren
Kupfer
Galvanische Abscheidung
Temperaturwechselbeständigkeit
Materialermüdung
Stoffeigenschaft
Beanspruchung
Finite-Elemente-Methode
Lebensdauer

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Göttingen
(wer)
Cuvillier
(wann)
2015
Urheber

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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:20 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2015

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