Zuverlässigkeit von Mikrobolometer-Infrarotsensoren

Hochschulschrift

Angaben zum Objekt

• Weitere Titel: Reliability of Microbolometer Thermal Imager Sensors
• Standort: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
• Umfang: Online-Ressource
• Sprache: Deutsch
• Anmerkungen: Duisburg, Essen, Universität Duisburg-Essen, Diss., 2016

Klassifikation und Themen

• Klassifikation: Elektrotechnik, Elektronik
• Schlagwort: Infrarotdetektor ; Zuverlässigkeit ; Halbleitergehäuse ; Bolometer ; Chip ; Hochtemperatursupraleiter ; Deckel ; Vakuumsensor ; Sensor ; Prüftechnik ; Rauschen

Beteiligte, Orts- und Zeitangaben

• Ereignis: Veröffentlichung
• (wo): Duisburg, Essen
• (wer): Universitätsbibliothek Duisburg-Essen
• (wann): 2016
• Urheber: Elßner, Michael
• Beteiligte Personen und Organisationen: Vogt, Holger

Weitere Informationen

• URN: urn:nbn:de:hbz:464-20160310-085103-8
• Rechteinformation: Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
• Letzte Aktualisierung: 25.03.2025, 13:49 MEZ