Hochschulschrift
Streulicht- und Rastertunnelmikroskop-Untersuchungen an optischen Siliciumoberflächen
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783183259090
3183259095
- Dimensions
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21 cm
- Extent
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IX, 109 S.
- Edition
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Alks Ms. gedr.
- Language
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Deutsch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 1996
- Bibliographic citation
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Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 259, Reihe 9
- Keyword
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Silicium
Halbleiteroberfläche
Optische Fläche
Rauigkeit
Lichtstreuung
Rastertunnelmikroskopie
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Düsseldorf
- (who)
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VDI-Verl.
- (when)
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1997
- Creator
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Kumpe, Ralf
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
- 11.06.2025, 2:11 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Kumpe, Ralf
- VDI-Verl.
Time of origin
- 1997