Hochschulschrift

Anwendung des Elektronenstrahltestverfahrens auf die Messung des elektrischen Potentialverlaufs in Halbleitersperrschichten, speziell in Silizium-Solarzellen

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
80 Bl.
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Kaiserslautern, Univ., Diss., 1993 (Nicht für den Austausch)

Keyword
Solarzelle
Halbleitergrenzfläche
Elektrisches Potenzial
Elektronenstrahltesten

Creator
Mayer, Albert

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Last update
11.06.2025, 2:13 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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  • Mayer, Albert

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