Evaluating On-State Voltage and Junction Temperature Monitoring Concepts for Wide-Bandgap Semiconductor Devices
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Englisch
- Bibliographic citation
-
In: 10.1109/TIA.2022.3191632
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Aachen
- (who)
-
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (when)
-
2022
- Creator
- DOI
-
10.18154/RWTH-2022-11359
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2023051101333712078885
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:43 PM CET
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Fritz, Niklas
- Kamp, Tobias
- Polom, Timothy A.
- Friedel, Maximilian
- De Doncker, Rik W.
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Time of origin
- 2022