Hochschulschrift
Automatische visuelle Inspektion in der Elektroniktechnologie
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
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29 cm
- Umfang
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III, 108 Bl.
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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graph. Darst.
Ilmenau, Techn. Univ., 1993
- Schlagwort
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Visuelles System
Qualitätssicherung
Elektroniktechnologie
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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11.06.2025, 14:15 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift