Konferenzschrift

Reliability technology : theory & applications

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
0444700390
Maße
31 cm
Umfang
X, 461 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Amsterdam, New York, NY, Oxford, Tokyo
(wer)
North-Holland
(wann)
1986
Beteiligte Personen und Organisationen

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:19 MEZ

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Objekttyp

  • Konferenzschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 1986

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