Michael Powalla
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Spektroskopische Meßverfahren zur Prozeßautomatisierung der kontinuierlichen Cu(In,Ga)Se2-Beschichtung
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Verlustanalyse für die Leerlaufspannung von galvanisch hergestellten Dünnschichtsolarzellen auf Basis von Cu(In,Ga)Se2 auf flexiblen Metallsubstraten
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Viertes Anwenderforum Dünnschicht-Photovoltaik: Module - Systeme - Anwendungen : 11./12. Februar 2008, Kloster Banz, Bad Staffelstein
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Third International Conference Thin Film Photovoltaics: Modules - Systems - Applications : June 07th, 2011, Munich-Dornach, Germany