Andreas Beyer

Physiker

Geboren: 1984, Frankenberg (Eder)

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Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium
Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium
Simultaneous determination of local thickness and composition for ternary III-V semiconductors by aberration-corrected STEM
Optimization of imaging conditions for composition determination by annular dark field STEM

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