Konferenzschrift | Kongress

Similarity-based pattern recognition : second international workshop ; proceedings

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783642391392
3642391397
Dimensions
24 cm
Extent
X, 296 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Bibliographic citation
Lecture notes in computer science ; 7953

Keyword
Mustererkennung
Maschinelles Lernen
Ähnlichkeitsmaß
Cluster-Analyse
Ähnlichkeitssuche

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin, Heidelberg
(who)
Springer
(when)
2013
Contributor
Hancock, Edwin R.
Pelillo, Marcello
SIMBAD (2 : 2013 : York, UK)

Table of contents
Rights
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Last update
11.06.2025, 1:49 PM CEST

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Object type

  • Konferenzschrift
  • Kongress

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Time of origin

  • 2013

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