Engineering shallow and deep level defects in κ-Ga2O3 thin films: comparing metal-organic vapour phase epitaxy to molecular beam epitaxy and the effect of annealing treatments
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Englisch
- Bibliographic citation
-
In: 10.1016/j.mtphys.2024.101463
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Aachen
- (who)
-
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (when)
-
2024
- Creator
-
Mazzolini, P.
Varley, J. B.
Parisini, A.
Sacchi, A.
Pavesi, M.
Bosio, A.
Bosi, M.
Seravalli, L.
Janzen, B. M.
Marggraf, M. N.
Bernhardt, N.
Wagner, M. R.
Ardenghi, A.
Bierwagen, O.
Falkenstein, Andreas
Kler, Joe
De Souza, Roger A.
Martin, Manfred
Mezzadri, F.
Borelli, C.
Fornari, R.
- DOI
-
10.18154/RWTH-2025-00081
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2502200044155.261425104268
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
15.08.2025, 7:23 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Mazzolini, P.
- Varley, J. B.
- Parisini, A.
- Sacchi, A.
- Pavesi, M.
- Bosio, A.
- Bosi, M.
- Seravalli, L.
- Janzen, B. M.
- Marggraf, M. N.
- Bernhardt, N.
- Wagner, M. R.
- Ardenghi, A.
- Bierwagen, O.
- Falkenstein, Andreas
- Kler, Joe
- De Souza, Roger A.
- Martin, Manfred
- Mezzadri, F.
- Borelli, C.
- Fornari, R.
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Time of origin
- 2024