High resolution slope measuring deflectometry for the characterization of ultra-precise reflective X-ray optics
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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Innovation in mechanical engineering - shaping the future : proceedings ; 1.1.[02]
International scientific colloquium / Ilmenau University of Technology ; 56
- Klassifikation
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Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Ilmenau
- (wer)
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Universitätsbibliothek Ilmenau
- (wann)
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2011
- Beteiligte Personen und Organisationen
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Siewert, Frank
Buchheim, Jana
Höft, Tobias
Fiedler, Stefan
Bourenkov, Gleb
Cianci, Michele
Signorato, Riccardo
Universitätsbibliothek
- URN
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urn:nbn:de:gbv:ilm1-2011iwk-136:7
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:22 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Siewert, Frank
- Buchheim, Jana
- Höft, Tobias
- Fiedler, Stefan
- Bourenkov, Gleb
- Cianci, Michele
- Signorato, Riccardo
- Universitätsbibliothek
- Universitätsbibliothek Ilmenau
Entstanden
- 2011