High resolution slope measuring deflectometry for the characterization of ultra-precise reflective X-ray optics

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
Innovation in mechanical engineering - shaping the future : proceedings ; 1.1.[02]
International scientific colloquium / Ilmenau University of Technology ; 56

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Ilmenau
(wer)
Universitätsbibliothek Ilmenau
(wann)
2011
Beteiligte Personen und Organisationen
Siewert, Frank
Buchheim, Jana
Höft, Tobias
Fiedler, Stefan
Bourenkov, Gleb
Cianci, Michele
Signorato, Riccardo
Universitätsbibliothek

URN
urn:nbn:de:gbv:ilm1-2011iwk-136:7
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:22 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Siewert, Frank
  • Buchheim, Jana
  • Höft, Tobias
  • Fiedler, Stefan
  • Bourenkov, Gleb
  • Cianci, Michele
  • Signorato, Riccardo
  • Universitätsbibliothek
  • Universitätsbibliothek Ilmenau

Entstanden

  • 2011

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