Hochschulschrift

Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters : = Charakterisierung von Mikro- und Nanometer-aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen

Weitere Titel
Charakterisierung von Mikro- und Nanometer-aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
II, 129 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2012

Schlagwort
Optische Messung ; Fertigungsmesstechnik

Urheber
Tan, Özgür

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:27 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Tan, Özgür

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