Hochschulschrift
Prozeßbegleitende Bestimmung von Defektdichten in hochintegrierten Schaltungen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783183280094
3183280094
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
XI, 140 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998
- Erschienen in
-
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 280, Reihe 9
- Schlagwort
-
VLSI
Mehrebenenverdrahtung
Fehlererkennung
Testmuster
Messwerterfassung
Stichprobe
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:02 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Weiland, Larg H.
- VDI-Verl.
Entstanden
- 1998
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