Hochschulschrift
Prozeßbegleitende Bestimmung von Defektdichten in hochintegrierten Schaltungen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783183280094
3183280094
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
XI, 140 S.
- Edition
-
Als Ms. gedr.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
graph. Darst.
Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998
- Bibliographic citation
-
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 280, Reihe 9
- Keyword
-
VLSI
Mehrebenenverdrahtung
Fehlererkennung
Testmuster
Messwerterfassung
Stichprobe
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.06.2025, 2:02 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Weiland, Larg H.
- VDI-Verl.
Time of origin
- 1998
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