Formation and properties of ultrathin silicon dioxide films on Ru(0001) : an in-situ spectro-microscopy study

Alternative title
Bildung und Eigenschaften ultra-dünner Siliziumdioxid-Filme auf Ru(0001)
Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
Berlin, Technische Universität Berlin, Dissertation, 2018

Classification
Physik

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Technische Universität Berlin
(when)
2018
Creator
Contributor
Schmidt, Thomas
Freund, Hans-Joachim
Behrendt, Frank

DOI
10.14279/depositonce-6705
Handle
11303/7482
URN
urn:nbn:de:101:1-201804182256
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:45 AM CEST

Data provider

This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.

Associated

  • Klemm, Hagen William
  • Schmidt, Thomas
  • Freund, Hans-Joachim
  • Behrendt, Frank
  • Technische Universität Berlin

Time of origin

  • 2018

Other Objects (12)