Hochschulschrift
Sputterunterstützte Elektronenstrahl-Mikroanalyse : Entwicklung einer Methode zur quantitativen Bestimmung von Tiefenprofilen im Submikrometerbereich
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783826575013
3826575016
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
II, 116 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2000
- Schlagwort
-
Tiefenprofilmessung
Elektronenstrahlmikroanalyse
Sputtern
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:00 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Richter, Silvia
- Shaker
Entstanden
- 2000
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