Exploring nanowire regrowth for the integration of bottom-up grown silicon nanowires into AFM scanning probes

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Journal of micromechanics and microengineering(31, 2021), H. 5

Event
Veröffentlichung
(where)
Ilmenau
(who)
TU Ilmenau
(when)
2021
Creator

DOI
10.1088/1361-6439/abf332
URN
urn:nbn:de:101:1-2022021506400316723301
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:50 PM CET

Data provider

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Time of origin

  • 2021

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