Reuse of test generation methods for embedded systems

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Standort: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main

ISSN: 1860-8477

Umfang: Online-Ressource

Sprache: Englisch

Erschienen in: Ifi technical reports ; 05-13

Klassifikation: Informatik

Ereignis: Veröffentlichung

(wo): Clausthal-Zellerfeld

(wer): Technische Universität Clausthal

(wann): 2005

Urheber: Guerrouat, Abdelaziz
Richter, Harald

Beteiligte Personen und Organisationen: Institut für Informatik, Technische Universität Clausthal

URN: urn:nbn:de:gbv:104-ifi-05-137

Rechteinformation: Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.

Letzte Aktualisierung: 14.08.2025, 10:56 MESZ

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Beteiligte

Guerrouat, Abdelaziz
Richter, Harald
Institut für Informatik, Technische Universität Clausthal
Technische Universität Clausthal

Entstanden

2005

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