Investigation of the interface of fungal mycelium composite building materials by means of low‐vacuum scanning electron microscopy

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Journal of Microscopy (294:2) - New York, NY : Wiley - S. 203-214

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Technische Universität Berlin
(when)
2024
Creator
Lehmann, Christian
Schmidt, Bertram
Stephan, Dietmar
Meyer, Vera

DOI
10.14279/depositonce-20949
Handle
11303/22148
URN
urn:nbn:de:101:1-2407310159395.194674676201
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:52 AM CEST

Data provider

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  • Lehmann, Christian
  • Schmidt, Bertram
  • Stephan, Dietmar
  • Meyer, Vera
  • Technische Universität Berlin

Time of origin

  • 2024

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