Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9787040300925
9783642201189
3642201180
Maße
24 cm
Umfang
XVIII, 552 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Schlagwort
Analytische Elektronenmikroskopie

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Beijing, Berlin, Heidelberg
(wer)
Higher Education Press, Springer
(wann)
2012
Urheber
Rong, Yonghua

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:13 MEZ

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Beteiligte

  • Rong, Yonghua
  • Higher Education Press, Springer

Entstanden

  • 2012

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