Hochschulschrift

Weisslicht-Interferometer zur Profilmessung

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
II, 119 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 1996

Schlagwort
Oberflächenfeingestalt
Profilmessung
Interferometer
Licht

Urheber
Zhou, Liang

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:40 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Zhou, Liang

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