Scanning tunneling microscopy and its application

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540593461
3540593462
9787532327874
7532327876
Maße
24 cm
Umfang
XII, 331 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturverz. S. 309 - 325

Erschienen in
Springer series in surface sciences ; 32

Schlagwort
Rastertunnelmikroskopie

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Budapest, Hong Kong, London, Milan, Paris, Tokyo, [Shanghai]
(wer)
Springer, Shanghai Scientific and Techn. Publ.
(wann)
1995
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Bai, Chunli

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:38 MESZ

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Beteiligte

  • Bai, Chunli
  • Bai, Chunli
  • Springer, Shanghai Scientific and Techn. Publ.

Entstanden

  • 1995

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