Hochschulschrift

Kapazitätsmessung an Silizium-MIS-Strukturen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
120, 22, 6 Bl.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
49 graph. Darst.
Berlin, Humboldt-Univ., Diss. A, 1983 (Nicht f.d. Austausch)

Schlagwort
Halbleiter
MIS-Struktur
Silizium
Halbleiter
Silicium

Urheber
Fechner, Siegfried

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:32 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Fechner, Siegfried

Ähnliche Objekte (12)