Archivale
Abschlussbericht zur Zuverlässigkeit von Transistoren GF 145
Enthält auch: Verteidigung Themenstudie SD 106. - Forschungs- und Entwicklungsarbeit "Mess- und Prüfverfahren".
- Archivaliensignatur
-
704 HFO FfO 133
- Kontext
-
Rep. 704 VEB Halbleiterwerk Frankfurt (Oder) >> Forschung und Entwicklung >> Forschungs- und Entwicklungsberichte
- Bestand
-
704 HFO FfO (83616) Rep. 704 VEB Halbleiterwerk Frankfurt (Oder)
- Laufzeit
-
1969
- Weitere Objektseiten
- Letzte Aktualisierung
-
07.04.2025, 11:40 MESZ
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Objekttyp
- Archivale
Entstanden
- 1969
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