Hochschulschrift | Online-Publikation
Einsatzmöglichkeiten und Grenzen der temperaturvariablen Ellipsometrie zur thermophysikalischen Charakterisierung polymerer Schichten
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Cottbus, Brandenburgische Techn. Univ., Diss., 2002
- Keyword
-
Polymerfilm
Thermophysikalische Eigenschaft
Ellipsometrie
Temperaturabhängigkeit
- Creator
- URN
-
urn:nbn:de:kobv:co1-000000266
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
- 15.08.2025, 7:31 AM CEST
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
- Online-Publikation
Associated
Other Objects (12)
Rheologische Charakterisierung polymerer Materialien : statistische Datenanalyse, Modellbildung und Simulation
Charakterisierung von Wechselwirkungsprozessen in sensitiven Schichten
Einsatzmöglichkeiten und Grenzen der temperaturvariablen Ellipsometrie zur thermophysikalischen Charakterisierung polymerer Schichten
Elektrooptische Charakterisierung dünner Schichten mesogener, organischer Halbleiter
Bildung und Struktur vernetzter temperaturstabiler polymerer Materialien
Die statistische Mechanik kompositionell ungeordneter, polymerer Netzwerke
Untersuchungen zur Reaktivität von Chalkogen-Polykation-Hexachlorozirkonaten und -hafnaten : Darstellung und Charakterisierung neuer diskreter und polymerer Chalkogen-Polykationen
Charakterisierung bio- und chemosensitiver Schichten mit Ellipsometrie und AFM
Präparation und In-situ-Charakterisierung MBE-gewachsener Kupferindiumdisulfid-Schichten
Simulationsrechnungen zur FTIR-reflexionsspektroskopischen Charakterisierung von Schicht- und Fasersystemen
Computer-Simulationen zum Adsorptionsverhalten polymerer Ketten auf rauen Oberflächen
Präparation und Charakterisierung monomolekularer Schichten polymerer Metallkomplexe mit Salicylidenaminliganden
Rheologische Charakterisierung polymerer Materialien : statistische Datenanalyse, Modellbildung und Simulation
Charakterisierung von Wechselwirkungsprozessen in sensitiven Schichten
Einsatzmöglichkeiten und Grenzen der temperaturvariablen Ellipsometrie zur thermophysikalischen Charakterisierung polymerer Schichten
Elektrooptische Charakterisierung dünner Schichten mesogener, organischer Halbleiter
Bildung und Struktur vernetzter temperaturstabiler polymerer Materialien
Die statistische Mechanik kompositionell ungeordneter, polymerer Netzwerke
Untersuchungen zur Reaktivität von Chalkogen-Polykation-Hexachlorozirkonaten und -hafnaten : Darstellung und Charakterisierung neuer diskreter und polymerer Chalkogen-Polykationen
Charakterisierung bio- und chemosensitiver Schichten mit Ellipsometrie und AFM
Präparation und In-situ-Charakterisierung MBE-gewachsener Kupferindiumdisulfid-Schichten
Simulationsrechnungen zur FTIR-reflexionsspektroskopischen Charakterisierung von Schicht- und Fasersystemen
Computer-Simulationen zum Adsorptionsverhalten polymerer Ketten auf rauen Oberflächen
Präparation und Charakterisierung monomolekularer Schichten polymerer Metallkomplexe mit Salicylidenaminliganden
Rheologische Charakterisierung polymerer Materialien : statistische Datenanalyse, Modellbildung und Simulation
Charakterisierung von Wechselwirkungsprozessen in sensitiven Schichten
Einsatzmöglichkeiten und Grenzen der temperaturvariablen Ellipsometrie zur thermophysikalischen Charakterisierung polymerer Schichten
Elektrooptische Charakterisierung dünner Schichten mesogener, organischer Halbleiter
Bildung und Struktur vernetzter temperaturstabiler polymerer Materialien
Die statistische Mechanik kompositionell ungeordneter, polymerer Netzwerke
Untersuchungen zur Reaktivität von Chalkogen-Polykation-Hexachlorozirkonaten und -hafnaten : Darstellung und Charakterisierung neuer diskreter und polymerer Chalkogen-Polykationen
Charakterisierung bio- und chemosensitiver Schichten mit Ellipsometrie und AFM
Präparation und In-situ-Charakterisierung MBE-gewachsener Kupferindiumdisulfid-Schichten
Simulationsrechnungen zur FTIR-reflexionsspektroskopischen Charakterisierung von Schicht- und Fasersystemen
Computer-Simulationen zum Adsorptionsverhalten polymerer Ketten auf rauen Oberflächen