Hochschulschrift
Röntgenographische Untersuchungen von Si1-xGex-Stranski-Krastanow-Inseln auf Silizium (001)
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
85 Bl.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Berlin, Humboldt-Univ., Diss., 2000
- Keyword
-
Silicium
Germanium
Mischkristall
Flüssigphasenepitaxie
Inselschicht
Röntgenographie
- Creator
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.06.2025, 1:31 PM CEST
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![Defektzustände in amorphen Silizium-Germanium-Legierungen (a-Si1-xGex:H [a-SixGexH])](/assets/placeholder/searchResultMediaNoDigitisedMedia.png)
Defektzustände in amorphen Silizium-Germanium-Legierungen (a-Si1-xGex:H [a-SixGexH])
Gex
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Präparative und röntgenographische Untersuchungen über das System Silicium - Stickstoff - Sauerstoff
Röntgenographische Bestimmung von Struktur und Morphologie von "leuchtendem", porösem Silizium
Charakterisierung des Relaxationsverhaltens von Si1-xGex/Si(001)-Schichten mittels Röntgentopographie
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Histoire du pays de Gex
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