Hochschulschrift
Ballistische Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an Ferromagnet-Halbleitergrenzflächen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Regensburg, Univ., Diss., 2007
- Keyword
-
Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie ; Schottky-Kontakt ; Halbleitergrenzfläche ; Übergitter ; Ferromagnetische Heterostruktur
- Creator
- URN
-
urn:nbn:de:bvb:355-opus-8087
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
14.08.2025, 11:03 AM CEST
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
Associated
Other Objects (12)
Mikroskopie mit ballistischen Elektronen
Mikroskopie mit ballistischen Elektronen und Löchern
Mikroskopie mit ballistischen Elektronen und Löchern
Das Transportverhalten heisser Elektronen an Metall-Halbleiterkontakten untersucht mit Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM)
Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an Au/Si und Au/Pr2O3/Si-Strukturen
Elektronen-Mikroskopie
Einzelelektronenschaltungen mit ballistischen heißen Elektronen
Mikroskopie mit ballistischen Phononen zur Charakterisierung von Einkristallen
Ballistische Gleichrichtung durch heiße Elektronen in Wellenleiterkreuzen
Untersuchung von Streuprozessen in zweidimensionalen Elektronengasen mittels ballistischer Elektronen
Untersuchung von Streuprozessen in zweidimensionalen Elektronengasen mittels ballistischer Elektronen
Theorie des ballistischen Transportes heißer Elektronen in inhomogen dotierten Submicronstrukturen
Mikroskopie mit ballistischen Elektronen
Mikroskopie mit ballistischen Elektronen und Löchern
Mikroskopie mit ballistischen Elektronen und Löchern
Das Transportverhalten heisser Elektronen an Metall-Halbleiterkontakten untersucht mit Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM)
Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an Au/Si und Au/Pr2O3/Si-Strukturen
Elektronen-Mikroskopie
Einzelelektronenschaltungen mit ballistischen heißen Elektronen
Mikroskopie mit ballistischen Phononen zur Charakterisierung von Einkristallen
Ballistische Gleichrichtung durch heiße Elektronen in Wellenleiterkreuzen
Untersuchung von Streuprozessen in zweidimensionalen Elektronengasen mittels ballistischer Elektronen
Untersuchung von Streuprozessen in zweidimensionalen Elektronengasen mittels ballistischer Elektronen
Theorie des ballistischen Transportes heißer Elektronen in inhomogen dotierten Submicronstrukturen
Mikroskopie mit ballistischen Elektronen
Mikroskopie mit ballistischen Elektronen und Löchern
Mikroskopie mit ballistischen Elektronen und Löchern
Das Transportverhalten heisser Elektronen an Metall-Halbleiterkontakten untersucht mit Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM)
Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an Au/Si und Au/Pr2O3/Si-Strukturen
Elektronen-Mikroskopie
Einzelelektronenschaltungen mit ballistischen heißen Elektronen
Mikroskopie mit ballistischen Phononen zur Charakterisierung von Einkristallen
Ballistische Gleichrichtung durch heiße Elektronen in Wellenleiterkreuzen
Untersuchung von Streuprozessen in zweidimensionalen Elektronengasen mittels ballistischer Elektronen
Untersuchung von Streuprozessen in zweidimensionalen Elektronengasen mittels ballistischer Elektronen