Towards Agile Standardization: Testbeds in Support of Standardization for the IIoT

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: IEEE Transactions on Engineering Management, S. 1-16

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(wann)
2020
Urheber
Koch, Claudia
Blind, Knut

DOI
10.1109/TEM.2020.2979697
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-513300
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:42 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Koch, Claudia
  • Blind, Knut
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Entstanden

  • 2020

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