Hochschulschrift

Steigerung der Qualität des Fertigungstests integrierter Schaltungen durch IDDT-Verfahren

zu Verbundenen Objekten

Weitere Titel
Improvement of production test quality of integrated circuits by IDDT methods
Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Erlangen, Universität Erlangen-Nürnberg, Diss., 2012

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Integrierte Schaltung ; Kundenspezifische Schaltung ; Test

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Erlangen
(wer)
Universitätsbibliothek der Universität Erlangen-Nürnberg
(wann)
2012
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Helmreich, Klaus

URN
urn:nbn:de:bvb:29-opus-33708
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:48 MEZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Arabackyj, Marc
  • Helmreich, Klaus
  • Universitätsbibliothek der Universität Erlangen-Nürnberg

Entstanden

  • 2012

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