Hochschulschrift

Charge loss modeling for EPROMs with ONO interpoly dielectric

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783891918364
3891918364
Maße
21 cm
Umfang
101 S.
Ausgabe
1. Aufl.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Zugl.: Zürich, Eidgenössische Techn. Hochsch., Diss., 1994

Erschienen in
Series in microelectronics ; Vol. 42

Schlagwort
EPROM
Floating-Gate-Struktur
Dielektrisches Schichtsystem
Langzeitverhalten

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Konstanz
(wer)
Hartung-Gorre
(wann)
1994
Urheber
Herrmann, Martin R.

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:34 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Herrmann, Martin R.
  • Hartung-Gorre

Entstanden

  • 1994

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