Microstructure characterization of BaSnO3 thin films on LaAlO3 and PrScO3 substrates from transmission electron microscopy
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
-
2045-2322
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
online resource.
- Erschienen in
-
Microstructure characterization of BaSnO3 thin films on LaAlO3 and PrScO3 substrates from transmission electron microscopy ; volume:8 ; number:1 ; day:6 ; month:7 ; year:2018 ; pages:1-10 ; date:12.2018
Scientific reports ; 8, Heft 1 (6.7.2018), 1-10, 12.2018
- Urheber
-
Yun, Hwanhui
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Ganguly, Koustav
Postiglione, William
Jalan, Bharat
Leighton, Chris
Mkhoyan, K. Andre
Jeong, Jong Seok
SpringerLink (Online service)
- DOI
-
10.1038/s41598-018-28520-9
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2019011011334115371122
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 11:01 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Yun, Hwanhui
- Ganguly, Koustav
- Postiglione, William
- Jalan, Bharat
- Leighton, Chris
- Mkhoyan, K. Andre
- Jeong, Jong Seok
- SpringerLink (Online service)
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