Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783527293131
3527293132
Dimensions
24 cm
Extent
XII, 323 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Keyword
Oberflächenanalyse
Rastertunnelmikroskopie
Oberflächenanalyse
Rasterkraftmikroskopie

Event
Veröffentlichung
(where)
Weinheim, New York, Basel, Cambridge, Tokyo
(who)
VCH
(when)
1996
Creator
Magonov, Sergei N.
Whangbo, Myung-Hwan

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Last update
11.06.2025, 2:21 PM CEST

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  • Magonov, Sergei N.
  • Whangbo, Myung-Hwan
  • VCH

Time of origin

  • 1996

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