Hochschulschrift

Bestimmung der Struktur komplexer Halbleiter-Oberflächenrekonstruktionen mit Röntgenbeugung

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
VI, 176 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Hamburg, Univ., Diss., 1999

Schlagwort
Silicium
Germanium
Kristallfläche
Adsorption
Röntgenbeugung
Synchrotronstrahlung

Urheber
Bunk, Oliver

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Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:48 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Bunk, Oliver

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