Defect Engineering in MBE-Grown CdTe Buffer Layers on GaAs (211)B Substrates
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
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1543-186X
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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online resource.
- Erschienen in
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Defect Engineering in MBE-Grown CdTe Buffer Layers on GaAs (211)B Substrates ; day:10 ; month:6 ; year:2022 ; pages:1-15
Journal of electronic materials ; (10.6.2022), 1-15
- Urheber
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Pan, W. W.
Gu, R. J.
Zhang, Z. K.
Lei, W.
Umana-Membreno, G. A.
Smith, D. J.
Antoszewski, J.
Faraone, L.
- Beteiligte Personen und Organisationen
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SpringerLink (Online service)
- DOI
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10.1007/s11664-022-09725-1
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2022080622433722579459
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
- 15.08.2025, 07:30 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Pan, W. W.
- Gu, R. J.
- Zhang, Z. K.
- Lei, W.
- Umana-Membreno, G. A.
- Smith, D. J.
- Antoszewski, J.
- Faraone, L.
- SpringerLink (Online service)