Defect Engineering in MBE-Grown CdTe Buffer Layers on GaAs (211)B Substrates

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
1543-186X
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
online resource.

Erschienen in
Defect Engineering in MBE-Grown CdTe Buffer Layers on GaAs (211)B Substrates ; day:10 ; month:6 ; year:2022 ; pages:1-15
Journal of electronic materials ; (10.6.2022), 1-15

Urheber
Pan, W. W.
Gu, R. J.
Zhang, Z. K.
Lei, W.
Umana-Membreno, G. A.
Smith, D. J.
Antoszewski, J.
Faraone, L.
Beteiligte Personen und Organisationen
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1007/s11664-022-09725-1
URN
urn:nbn:de:101:1-2022080622433722579459
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:30 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Pan, W. W.
  • Gu, R. J.
  • Zhang, Z. K.
  • Lei, W.
  • Umana-Membreno, G. A.
  • Smith, D. J.
  • Antoszewski, J.
  • Faraone, L.
  • SpringerLink (Online service)

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