ALD-grown seed layers for electrochemical copper deposition integrated with different diffusion barrier systems

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Language
Englisch
Notes
In: Microelectronic Engineering, 88, 2011, 5, S. 684-689, DOI: 10.1016/j.mee.2010.07.004

Keyword
Beschichten
Verkupferung
Atomlagenabscheidung
Ruthenium
Kupfer
Metallisieren
Leiterbahn
ULSI

Event
Veröffentlichung
(where)
Chemnitz
(who)
Universitätsbibliothek Chemnitz
(when)
2011
Event
Veröffentlichung
(where)
Chemnitz
(who)
Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS
(when)
2011
Event
Veröffentlichung
(where)
Chemnitz
(who)
Technische Universität Chemnitz
(when)
2011
Creator
Waechtler, Thomas
Ding, Shao-Feng
Hofmann, Lutz
Mothes, Robert
Xie, Qi
Oswald, Steffen
Detavernier, Christophe
Schulz, Stefan E.
Qu, Xin-Ping
Lang, Heinrich
Gessner, Thomas

URN
urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-68040
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:52 AM CEST

Data provider

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  • Waechtler, Thomas
  • Ding, Shao-Feng
  • Hofmann, Lutz
  • Mothes, Robert
  • Xie, Qi
  • Oswald, Steffen
  • Detavernier, Christophe
  • Schulz, Stefan E.
  • Qu, Xin-Ping
  • Lang, Heinrich
  • Gessner, Thomas
  • Universitätsbibliothek Chemnitz
  • Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS
  • Technische Universität Chemnitz

Time of origin

  • 2011

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