Hochschulschrift

Bedingte Schätzung von Value at Risk und Expected Shortfall

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
XII, 151 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2014

Schlagwort
Value at Risk
Prognoseverfahren
Ausreißer
Nichtparametrisches Verfahren
Simulation
Statistischer Test
:z Geschichte 2011-2011
Value at Risk, Expected Shortfall, Nichtparametrische Statistik, Extremwerttheorie, Risikomaße, Backtesting, Finanzmarktdaten
Deutschland

Urheber

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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:34 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

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