Logik im Patentrecht : objektive Fundamente der Urteilsbildung

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Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783452252760
3452252760
Dimensions
21 cm
Extent
XVIII, 403 S.
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.
Literaturverz. S. 393 - 397

Keyword
Patentrecht
Urteil
Intension
Extension

Event
Veröffentlichung
(where)
Köln, Berlin, Bonn, München
(who)
Heymann
(when)
2002
Creator

Table of contents
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Last update
11.03.2025, 12:20 PM CET

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Time of origin

  • 2002

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