Logik im Patentrecht : objektive Fundamente der Urteilsbildung

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783452252760
3452252760
Maße
21 cm
Umfang
XVIII, 403 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Literaturverz. S. 393 - 397

Schlagwort
Patentrecht
Urteil
Intension
Extension

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Köln, Berlin, Bonn, München
(wer)
Heymann
(wann)
2002
Urheber

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:45 MESZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2002

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