Characterization of thin-film adhesion and phonon lifetimes in Al/Si membranes by picosecond ultrasonics

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: New Journal of Physics ; 19 (2017), 5. - 053019. - eISSN 1367-2630

Classification
Physik

Event
Veröffentlichung
(where)
Konstanz
(who)
Bibliothek der Universität Konstanz
(when)
2017
Creator
Grossmann, Martin
Schubert, Martin
He, Chuan
Brick, Delia
Scheer, Elke
Hettich, Mike
Gusev, Vitalyi
Dekorsy, Thomas

URN
urn:nbn:de:bsz:352-0-408029
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
15.08.2025, 7:23 AM CEST

Data provider

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Time of origin

  • 2017

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