Characterization of thin-film adhesion and phonon lifetimes in Al/Si membranes by picosecond ultrasonics
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Bibliographic citation
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In: New Journal of Physics ; 19 (2017), 5. - 053019. - eISSN 1367-2630
- Classification
-
Physik
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Konstanz
- (who)
-
Bibliothek der Universität Konstanz
- (when)
-
2017
- Creator
-
Grossmann, Martin
Schubert, Martin
He, Chuan
Brick, Delia
Scheer, Elke
Hettich, Mike
Gusev, Vitalyi
Dekorsy, Thomas
- URN
-
urn:nbn:de:bsz:352-0-408029
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
15.08.2025, 7:23 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Grossmann, Martin
- Schubert, Martin
- He, Chuan
- Brick, Delia
- Scheer, Elke
- Hettich, Mike
- Gusev, Vitalyi
- Dekorsy, Thomas
- Bibliothek der Universität Konstanz
Time of origin
- 2017