Hochschulschrift

Untersuchungen zur CMOS Integration von Graphenbauteilen

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Location: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main

Dimensions: 21 cm

Extent: 125 Seiten

Language: Deutsch

Notes: Illustrationen
Technische Hochschule Aachen, Dissertation, 2021

Classification: Elektrotechnik, Elektronik

Keyword: CMOS
Elektrische Messung
Messung
Kontaktwiderstand
Integration

Event: Veröffentlichung

(where): Aachen

(when): [2020?]

Creator: König, Matthias

Table of contents: https://d-nb.info/1239668007/04

Rights: Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.

Last update: 11.03.2025, 12:26 PM CET

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