Charakterisierung und Modellierung der ESD-Zerstörfestigkeit von integrierten Schaltungen unter Berücksichtigung verschiedener ESD-Ausfallmechanismen

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Deutsch
Notes
In: Scheier, Stanislav; Frei, Stephan: Charakterisierung und Modellierung der ESD-Zerstörfestigkeit von integrierten Schaltungen unter Berücksichtigung verschiedener ESD-Ausfallmechanismen. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit. Berlin : VDE-Verlag, 2014, S. 661-669

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Festigkeit
Kennlinie
Ausfall
Integrierte Schaltung
Gedruckte Schaltung

Event
Veröffentlichung
(where)
Hannover
(who)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(when)
2014
Event
Veröffentlichung
(where)
Hannover
(who)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(when)
2014

DOI
10.15488/5459
URN
urn:nbn:de:101:1-2020062607010936098351
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 11:00 AM CEST

Data provider

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Associated

  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Time of origin

  • 2014

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