Flat-Field Super-Resolution Localization Microscopy with a Low-Cost Refractive Beam-Shaping Element

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
2045-2322
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
online resource.

Erschienen in
Flat-Field Super-Resolution Localization Microscopy with a Low-Cost Refractive Beam-Shaping Element ; volume:8 ; number:1 ; day:4 ; month:4 ; year:2018 ; pages:1-8 ; date:12.2018
Scientific reports ; 8, Heft 1 (4.4.2018), 1-8, 12.2018

Klassifikation
Physik

Urheber
Rowlands, Christopher J.
Beteiligte Personen und Organisationen
Ströhl, Florian
Ramirez, Pedro P. Vallejo
Scherer, Katharina M.
Kaminski, Clemens F.
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1038/s41598-018-24052-4
URN
urn:nbn:de:101:1-2018060523465670499664
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:37 MESZ

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Beteiligte

  • Rowlands, Christopher J.
  • Ströhl, Florian
  • Ramirez, Pedro P. Vallejo
  • Scherer, Katharina M.
  • Kaminski, Clemens F.
  • SpringerLink (Online service)

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