Hochschulschrift | Online-Publikation

Untersuchung von Ober- und Grenzflächen mittels niederenergetischer Photoelektronenbeugung

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Münster (Westfalen), Univ., Diss., 2002

Schlagwort
Silicium
Kristallfläche
Photoelektron
Elektronenbeugung
Silicium
Siliciumdioxid
Grenzfläche
Photoelektron
Elektronenbeugung
Elektronenholographie
Photoelektron

Urheber

URN
urn:nbn:de:hbz:6-85659549800
urn:nbn:de:hbz:6-2100
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:56 MEZ

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Objekttyp

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