Hochschulschrift
Untersuchungen zur Temperaturabhängigkeit der Defektdichte im amorphen Silicium
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
[10], 72 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
graph. Darst.
Magdeburg, Techn. Univ., Diss., 1992
- Creator
-
Kirbs, Volker-Uwe
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 2:23 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Kirbs, Volker-Uwe
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