Hochschulschrift

Struktur und Stabilität dünner Eisensilizid-Filme auf Si(111) : eine Untersuchung mittels Beugung langsamer Elektronen und Gesamtenergie-Rechnungen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
Ill., graph. Darst.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2003

Schlagwort
Silicium
Kristallfläche
Eisensilicide
Dünne Schicht

Urheber

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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 11:55 MEZ

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Objekttyp

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