Monografie
Low voltage hot carrier issues in deep sub-micron metal oxide semiconductor field effect transistors
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
-
München, Univ. der Bundeswehr, Diss., 2001
- Identifier
-
963719645
Thema
MOS-FET ; n-Kanal-FET ; Heißes Elektron ; Elektron-Elektron-Wechselwirkung ; Elektron-Phonon-Wechselwirkung ; Stoßionisation ; Hochschulschrift
Beteiligte Personen und Organisationen
- URN
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
26.01.2023, 13:54 MEZ
Objekttyp
- Monografie
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