- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
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1573-0727
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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online resource.
- Erschienen in
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A CMOS Ripple Detector for Voltage Regulator Testing ; volume:32 ; number:2 ; day:28 ; month:1 ; year:2016 ; pages:227-233 ; date:4.2016
Journal of electronic testing ; 32, Heft 2 (28.1.2016), 227-233, 4.2016
- Urheber
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Nguyen, Hieu
- Beteiligte Personen und Organisationen
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Ozmen, Cagatay
Dirican, Aydin
Tan, Nurettin
Margala, Martin
SpringerLink (Online service)
- DOI
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10.1007/s10836-016-5566-4
- URN
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urn:nbn:de:1111-2016033122228
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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14.08.2025, 10:54 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Nguyen, Hieu
- Ozmen, Cagatay
- Dirican, Aydin
- Tan, Nurettin
- Margala, Martin
- SpringerLink (Online service)