Lehrbuch
Testverfahren in der Mikroelektronik : Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783540617280
3540617280
- Maße
-
25 cm
- Umfang
-
XI, 219 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Literaturverz. S. 209 - 219
- Schlagwort
-
Digitale integrierte Schaltung
Testbarkeit
Fehlererkennung
Digitale integrierte Schaltung
Selbsttest
Fehlererkennung
Logische Schaltung
Testmuster
Algorithmus
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Budapest, Hong Kong, London, Mailand, Paris, Santa Clara, Singapur, Tokio
- (wer)
-
Springer
- (wann)
-
1997
- Urheber
-
Daehn, Wilfried
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:49 MESZ
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Objekttyp
- Lehrbuch
Beteiligte
- Daehn, Wilfried
- Springer
Entstanden
- 1997
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